半导体分立器件可靠性测试设备的应用

1、前言半导体分立器件可靠性测试设备是专门用于评估半导体分立器件在各种条件下的可靠性和稳定性的工具和系统。这些设备通过模拟器件在实际使用中可能遇到的各种环境和电应力情况，对器件进行一系列的测试和监测，以确定其是否能够在规定的时间内和特定的条件下正常工作。其主要分为环境应力测试类、电应力测试类、其他特殊测试设备。2、温控仪表在半导体分立器件可靠性测试设备的应用天津海瑞电子科技有限公司在半导体分立器件可靠性测试设备生产上主要用于测IGBT模块，IGBT模块是一种重要的功率半导体器件，所以在测试过程中对温度的要求较高，测试原理主要是通过电热-水冷板板给被测元件快速加热或冷却，从而使元件Tc瞬间上升或下降如此反复循环（详见图1）。图13、宇电温控仪表帮助客户实现的价值半导体测试设备对温控器的要求高，且受当时芯片涨价，国外温控器断货的影响，客户前期选用的温控器控制效果都差强人意，客户辗转多次找到宇电

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半导体行业碳化硅长晶炉应用案例

物理气相传输法（PVT）是制备碳化硅（SiC）晶体的主流方法之一，PVT法生长SiC单晶，温度高达2300℃，生长过程需严格控制生长温度梯度，其温度控制系统为闭环控制，由红外测温仪、温控器、加热电源以及加热器（感应线圈）组成。系统框图：宇电AI系列人工智能调节器1、AI-8x9系列2、AI-MODBUS-TCP1-24VDC成功应用于国内某半导体装备制造头部企业碳化硅长晶炉，该系统温度的精确控制，仪表兼容多类型输入/输出规格，具备可调的控制周期及报警功能，通讯兼容RS485及RS232，且可匹配外部TCP模块实现MODBUS-TCP便捷通讯。温度控制效果：温度控制效果：温度波动≤±0.5℃@2200℃，温度超调、稳定时间等指标均与英国竞品水平相当，经终端客户验证，可完全平替国外竞品，成功实现国产替代。

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行业案例 | 宇电多回路温控器品质卓越，满足半导体制造多样化测试需求

随着半导体产业走入芯片融合时代，工艺和应用的复杂度不断提升，想要生产出好的产品，“测试先行”尤为重要。测试设备主要用于半导体制造过程中检测芯片性能与缺陷，几乎每一道工艺完成后都要进行，其中高精度温度控制贯穿于整个测试环节的始末。宇电合作伙伴中，江苏某高端测试仪器和设备供应商，专业从事光网络测试、光芯片测试、电性能测试和功率芯片测试。自2020年起，激光器芯片老化测试需求激增，对温控器品质和性能的要求更苛刻，一直在寻求激光器老化设备的理想温控解决方案。通过对比验证，宇电AI-7548D71温控器在控制效果、通讯速度、安全性与稳定性方面完全满足该设备供应商在不同测试场景下的多样化需求。提升测试结果的准确性和可靠性。客户评价：“我们曾在设备上进行过不同品牌温控系统的控制测试。结果显示，宇电AI-7548D71温控模块的控制效果明显优于其他品牌，与国际品牌控温效果一致。” 宇电多路温控器全面提升

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